
STY-2導電型號測試儀工作原理標準操作流程
半導體材料(如硅、鍺)N 型/P 型鑒別儀器?,其核心原理為?熱探針法(熱電法)?:利用熱探針與冷探針在半導體表面形成溫差,驅動多數載流子擴散產生熱電動勢,通過檢測電流/電壓方向判定導電類型 。??
工作原理
?溫差構建?:熱探針加熱至 40-60℃,冷探針保持室溫,兩者接觸半導體形成穩定溫差梯度 。
?載流子擴散?:
?N 型?:多數載流子為電子,從熱端向冷端擴散,導致熱端缺電子顯?正電勢?。
?P 型?:多數載流子為空穴,從熱端向冷端擴散,導致熱端缺空穴顯?負電勢?。
?信號判別?:儀器測量兩探針間熱電流方向(或電勢極性),正偏轉指示 P 型,負偏轉指示 N 型 。??
標準操作流程
?預熱恒溫?:接通電源,等待熱探針達到工作溫度(通常需 10 分鐘,保溫燈亮)。
?接觸測量?:將熱探針平穩放置于被測單晶表面,冷探針輕觸同一點形成歐姆接觸。
?讀取結果?:觀察液晶顯示(N/P)或檢流計指針偏轉方向(左偏 N 型,右偏 P 型)。
?高阻補償?:若測量高電阻率樣品(>1000Ω·cm),需調節調零電位器至臨界點以提高靈敏度 。
?注意事項?:測量時手部不可接觸樣品以防人體感應干擾;顯示不穩定時取多次重復結果 。??
關鍵適用條件
?適用對象?:非本征半導體材料(硅、鍺單晶或塊體)。
?電阻率范圍?:硅材料通常適用于 ?10? ~ 10?? Ω·cm?(部分型號可測至<1000Ω·cm);鍺材料適用非本征至重摻范圍 。
?區分概念?:請勿混淆“導電?型號?測試儀"(測半導體 N/P 型)與“電導?率?測試儀"(測液體離子導電能力或金屬渦流導電率),后者原理分別為電極法或渦流法,??